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高低溫試驗(yàn)箱

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>>高低溫試驗(yàn)箱GB/T2423.1-2008標(biāo)準(zhǔn)概述
高低溫試驗(yàn)箱GB/T2423.1-2008標(biāo)準(zhǔn)概述

時(shí)間:2011/9/29
 
    高低溫試驗(yàn)箱GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫》標(biāo)準(zhǔn)概述:
    GB/T2423.1-2008適用于非散熱和散熱兩類試驗(yàn)樣品。GB/T2423.1-2008對(duì)于非散熱試驗(yàn)樣品,試驗(yàn)Aa和Ab不違背早期發(fā)行的標(biāo)準(zhǔn)。GB/T2423.2-2008對(duì)于非散熱試驗(yàn)樣品,試驗(yàn)Ba和Bb不違背早期發(fā)行的標(biāo)準(zhǔn)。
    GB/T2423.1-2008僅限于用來(lái)考核或確定電工、電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備及其他產(chǎn)品)在低溫環(huán)境條件下貯存和(或)使用的適應(yīng)性。不能用來(lái)評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品對(duì)溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力,在這種情況下,應(yīng)當(dāng)采用試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
    非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn):-----試驗(yàn)Aa:溫度突變
                            -----試驗(yàn)Ab:溫度漸變
    散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn):  -----試驗(yàn)Ad:溫度漸變
    高低溫試驗(yàn)箱GB/T2423.1-2008通常用于條件試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間是從試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定時(shí)開始計(jì)算的。在特殊情況下,如果條件試驗(yàn)期間試驗(yàn)樣品達(dá)不到溫度穩(wěn)定,剛試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間從試驗(yàn)箱達(dá)到規(guī)定試驗(yàn)溫度時(shí)開始計(jì)算。
    相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定:
    ①試驗(yàn)箱內(nèi)溫度變化速率;
    ②試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱的時(shí)間;
    ③試驗(yàn)樣品在試驗(yàn)條件下暴露試驗(yàn)開始的時(shí)間;
    ④試驗(yàn)樣品通電或加負(fù)載的時(shí)間。
    在這些條件下,相關(guān)規(guī)范的制定都可根據(jù)CB/T2424.1-1989導(dǎo)則選定以上4個(gè)參數(shù)(以上條件下修訂正在考慮之中)。
 
相關(guān)資料
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